Neue Terahertz-Technik erlaubt Echtzeit-Blick in laufende Prozessoren

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Neue Terahertz-Technik erlaubt Echtzeit-Blick in laufende Prozessoren
Quelle: Chung et al.

Forscher der University of Adelaide können erstmals mit Terahertzstrahlung in laufende Chips blicken - und das ganz ohne physischen Eingriff. Das eröffnet einige neue Möglichkeiten.

Wer einen Prozessor oder Halbleiterbaustein bislang von innen untersuchen wollte, musste das Gerät abschalten, das Gehäuse öffnen oder physische Kontaktspitzen anlegen. Röntgenaufnahmen zeigen die Struktur eines Chips - aber nicht, was elektrisch darin passiert. Wer das elektrische Verhalten beobachten wollte, benötigte offene Wafer und Messspitzen, die direkt auf die Leiterbahnen aufgesetzt wurden.

Forscher der australischen University of Adelaide haben nun eine Methode entwickelt, um mit Terahertzstrahlung in aktive, verpackte Halbleiterbauelemente zu blicken - und das Ganze ohne physischen Kontakt, ohne das Gehäuse zu öffnen und ohne den Chip abzuschalten. Das Ergebnis wurde im IEEE-Journal veröffentlicht.

Die Technik erlaubt es erstmals, Ladungsträgerbewegungen in laufenden Transistoren und Dioden in Echtzeit zu beobachten, was laut den Forschern auch sicherheitsrelevante Implikationen hat.

Terahertzstrahlung trifft auf schaltende Transistoren

Terahertzstrahlen liegen im elektromagnetischen Spektrum zwischen Mikrowellen und Infrarotstrahlung - sie sind nicht ionisierend, also ungefährlich für Elektronik und biologisches Gewebe, können aber viele nichtmetallische Materialien durchdringen, darunter typische Chip-Gehäusematerialien aus Kunststoff oder Keramik.

  • Das Forschungsteam nutzte einen Vektor-Netzwerkanalysator (VNA), der ein Mikrowellensignal mit bekannter Frequenz und Phase erzeugt.
  • Ein Frequenzverstärker wandelt dieses Signal in Terahertzstrahlung um, die durch eine Fokussierlinse auf den zu prüfenden Chip gebündelt wird.
  • Schalten die Transistoren im Chip während des Betriebs, verändern sich kurzzeitig die freien Ladungsträger im Halbleitermaterial. Diese winzigen Veränderungen beeinflussten, wie die auftreffende Terahertz-Welle reflektiert wird.

Der Schlüssel: Ein umgebauter Homodyne-Empfänger

Das entscheidende technische Problem: Die Veränderungen im Reflexionssignal sind extrem klein - oft kleiner als der Rauschpegel des Terahertz-Oszillators selbst. Bisherige Detektionsverfahren waren zu unempfindlich, um diese Signale sicher zu isolieren.

Die Lösung des Teams war ein sogenannter "Homodyne Quadrature Receiver", der das eingehende Signal direkt mit dem Originalsignal vergleicht und so Hintergrundrauschen rechnerisch herausfiltert. Entscheidend dabei: Das Team musste den Empfänger modifizieren, da er ursprünglich nur für Mikrowellenfrequenzen ausgelegt war.

Mit dieser Methode gelang es, elektrische Aktivität in handelsüblichen Bauelementen (einer 1N4007-Diode und einem BC548B-Transistor) in Echtzeit zu beobachten, ohne das Gehäuse zu öffnen oder das Bauteil abzuschalten.

Neue Terahertz-Technik erlaubt Echtzeit-Blick in laufende Prozessoren (1) Quelle: Chung et al.

Drei mögliche Einsatzgebiete

Die Forscher sehen drei zentrale Anwendungsfelder für die neue Technik:

  • In der Halbleiterfertigung könnten Fehler in aktiven Schaltkreisen direkt während der Produktion erkannt werden - ohne destruktive Tests oder Betriebsunterbrechungen.
  • Bei sicherheitskritischer Infrastruktur wie Hochleistungsumrichtern in Stromnetzen oder Medizingeräten erlaubt die Methode eine Zustandsüberwachung, ohne die Anlage abzuschalten.
  • Zudem planen die Forscher, die Technik für Side-Channel-Sicherheitsanalysen weiterzuentwickeln - also die Frage, ob sich verschlüsselte Daten über das Schaltverhalten eines Chips indirekt auslesen lassen.

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    • Kommentare (4)

      Zur Diskussion im Forum
      • Von NurMalFragen Schraubenverwechsler(in)
        Netter Artikel, auch wenn ich nur Bahnhof verstanden habe.
      • Von NurMalFragen Schraubenverwechsler(in)
        Netter Artikel, auch wenn ich nur Bahnhof verstanden habe.
      • Von PCGH_Torsten Kokü-Junkie (m/w)
        Nein, Jahre helfen da nicht. Das ist ganz basale Optik. Selbst wenn man Bündelungssysteme für Terahertzstrahlung auf das Level optischer Linsen bringt, liegt das physikalische Limit ungefähr bei der Hälfte der verwendeten Wellenlänge. Hier also bei 500 µm, am unteren Ende dieses Frequenzbereiches ist vielleicht irgendwann eine Auflösung von 100 µm möglich. Wenn man da noch Unterschiede innerhalb eines Transistors sehen will, sollte der also 0,5 bis 5 mm groß sein.

        Das reicht, wie gesagt, um ein ganz neues Detailverständnis und damit möglicherweise neue Strukturen von respektive für Power Stages oder Funkverstärker zu entwickeln. Aber ein Pentium III wurde in 0,130 bis 0,250 µm gefertigt. Selbst ein 8086 lag schon bei 3 µm und damit drei Größenordnungen jenseits der Möglichkeiten dieser Technologie. Sowas kann man frühestens mit UV-, besser Röntgenstrahlung auflösen – aber die sieht eben keine Ladungen mehr und schädigt dafür die Strukturen.
      • Von GreenBlue19 PC-Selbstbauer(in)
        Ich würde stark vermuten das sich diese Technik eher für ältere Chips aus der 180nm Ära eignet, also sowas wie ein alter Pentium 3, wobei das offensichtlich bereits erheblich zu komplex für diese Technik wäre, das was da wohl verwendet wurde war wohl eine "1N4007‑Silizium‑Gleichrichterdiode" das kann man mit einer alten cpu nicht wirklich vergleichen, also bis die Technik mal in der aktiv produzierenden Halbleiter industrie zum EInsatz kommt, werden noch viele Jahre ins Land ziehen ...
      • Von PCGH_Torsten Kokü-Junkie (m/w)
        "In Prozessoren"? Das stelle ich mir mit einem "1,3 mm spot " schwierig vor. Ausgehend von einem knappen Millimeter Wellenlänge wird man das Auflösungsvermögen auch nicht auf den Nanometerbereich verfeinern können, ohne die grundlegenden Eigenschaften der Strahlung zu verlieren.

        Aber spannende Analysetechnik für Hochfrequenz- und Leistungstransistoren und damit vielleicht irgendwann die Grundlage für Fortschritte bei Spannungswandlern und drahtloser Kommunikation.
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