Schon einmal einen Chipdefekt gesehen? 3D-Elektronenmikroskopie blickt in GAA-Transistoren - Bildergalerie, Bild 2

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Schon einmal einen Chipdefekt gesehen? 3D-Elektronenmikroskopie blickt in GAA-Transistoren Mit Elektronen-Ptychografie machen Cornell-Forscher atomare Rauigkeiten in Gate-All-Around-Transistoren sichtbar. Die "Mouse Bites" entstehen an Grenzflächen und können die Chip-Performance sabotieren.

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Schon einmal einen Chipdefekt gesehen? 3D-Elektronenmikroskopie blickt in GAA-Transistoren
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[Quelle: David Nutt, Cornell Chronicle]

https://www.pcgameshardware.de/Neue-Technologien-Thema-71240/News/3D-Elektronenmikroskopie-blickt-in-GAA-Transistoren-1521136/galerie/4143792/
[03/03/2026] Dieses Bild zeigt die Silizium-, Siliziumdioxid- und Hafniumoxidschichten im Inneren eines Transistorkanals.

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