[08/07/2009] Wafer-Sortierung /-test (Maßstab: DIE-Format, ~10mm): Die Schaltkreise, die später eigene CPUs bilden, sind an dieser Stelle fertig. Noch auf dem Wafer werden nun erste Tests durchgeführt, in denen die einzelnen Schaltkreise auf richtige Reaktionen hin überprüft werden.
![[08/07/2009] Wafer-Sortierung /-test (Maßstab: DIE-Format, ~10mm): Die Schaltkreise, die später eigene CPUs bilden, sind an dieser Stelle fertig. Noch auf dem Wafer werden nun erste Tests durchgeführt, in denen die einzelnen Schaltkreise auf richtige Reaktionen hin überprüft werden.](/screenshots/1280x1024/2009/07/27_08_wafer-test-cut_1.jpg)
